F. Valcarce Codes (*) y M. Rodriguez Vidal
Departamento de Electricidad y Electrónica. Facultad de Ciencias Físicas.
UNIVERSIDAD COMPLUTENSE. MADRID. ESPAÑA.
(*) Dirección actual : Instituto Nacional de Toxicología y C.F. Madrid.
Se analiza en este trabajo la transmisión óptica, bajo incidencia normal, de láminas delgadas ligeramente absorbentes depositadas sobre sustratos transparentes.
Analizamos las condiciones experimentales en las que es válido considerar que la lámina es plano-paralela y también presentamos un sencillo método de cálculo para obtener el espesor (d) y el índice complejo de refracción (N = n - jk) de la lámina a partir de su espectro de transmisión.
Los cálculos para la determinación del índice de refracción y el espesor de una lámina dada se pueden realizar automáticamente utilizando el programa de cálculo de índices de refracción.
Con éste método se obtienen incertidumbres iguales ó menores que aquellas que se obtienen con otros métodos que requieren al menos dos tipos de medidas independientes.
Se recupera aquí este clásico, para la medida de índices de refracción y espesores de láminas delgadas , en el que se han corregido algunos errores tipográficos que aparecieron en su día publicados, y se ha suavizado el austero y duro lenguaje con pequeñas adendas aclaratorias que hacen más llevadera su lectura y que a buen seguro habrían sido del agrado de uno de los autores ( M. Rodriguez Vidal ), ya fallecido.
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